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日立测厚仪

FT160台式XRF适用于电子元件镀层分析

FT160台式XRF适用于电子元件镀层分析

FT160台式XRF镀层测厚仪,旨在测量当今PCB、半导体和微连接器上的微小部件。准确、快速地测量微小部件的能力有助于提高生产率并避免代价高昂的返工或元件报废。
FT230:具有高级功能的微焦斑 XRF 用于大批量镀层分析

FT230:具有高级功能的微焦斑 XRF 用于大批量镀层分析

FT230的每个设计元素均旨在减少完成XRF测量所需的时间,有助于更快地根据测试结果采取行动,减少浪费并提高工作效率。从根本上说,918博天堂让操作人员与仪器的交互变得越来越简单。
日立CMI511手持式带温度补偿孔铜镀层测厚仪

日立CMI511手持式带温度补偿孔铜镀层测厚仪

CMI511带来独有的温度补偿功能铜箔厚度测量,该功能可减少废料并避免昂贵的返工。该仪表的自动温度校正可实现极高的准确性,即使对已经从电镀槽中提起的板材,也能准确测量。
日立手持式CMI165测厚仪适用于温度补偿的表面测量和铜线铜层厚度测量

日立手持式CMI165测厚仪适用于温度补偿的表面测量和铜线铜层厚度测量

CMI165可对温度实施补偿,在不考虑铜温度的前提下获得准确的检验结果。
日立CMI760系列常规金属测厚仪

日立CMI760系列常规金属测厚仪

CMI760接受多种探针类型,可满足几乎任何PCB应用,包括表面铜和孔铜应用。
台式XRF镀层测厚仪

日立FT110A台式XRF镀层测厚仪,锌层测厚仪

FT110A是一款台式XRF分析仪,旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的X射线荧光技术与自动定位功能相结合,有助于提高电镀车间的生产力,同时确保组件符合严苛标准。
日立X-Strata920 镀层测厚仪

日立X-Strata920 镀层测厚仪,台式XRF镀层测厚仪

X-Strata920是一款高精度台式XRF镀层测厚仪,具有多种选择,可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合测量各种基材上的涂层,适合用于确定产品质量的电子产品、连接器、装饰品和珠宝分析

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